1樓：棒棒糖_吖
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回答檢測限有三種常用的表示方式
（1）儀器校準下限 可檢測儀器的最小訊號，儀器校驗通常用訊雜比來表示,當訊號與雜訊之比大於等於3時，相當於訊號強度的試樣濃度，定義為儀器檢測下限。
（2）方法檢測下限 即某方法可檢測的最低濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測下限。
（3）樣品檢測下限 即相對於空白可檢測的樣品最小含量。樣品檢測下限定義為：其訊號等於測量空白溶液的訊號的標準偏差的3倍時的濃度。
檢測下限是選擇分析方法的重要因素。計量檢測樣品檢測下限不僅與方法檢測下限有關，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動情況有關。
只有當空白含量為零時，樣品檢測下限等於方法檢測下限。儀器校準然而，空白含量往往不等於零，空白大小受環境對樣品的汙染，試劑純度、水質純度、容器的質地及操作等因素的影響。
因此，由外推法可求得方法檢測下限可能很低，但由於空白含量的存在，以及空白
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